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產(chǎn)品中心光學測量儀器顯微OCT掃頻測振/磁光克爾
product
產(chǎn)品分類
掃描開爾文探針(分辨率20um)|材料表面分析（顯微OCT）） 掃描開爾文探頭可以測量 CPD（接觸電位差）值，評估半導體和導電材料的功函數(shù)。測量不僅可以在樣品表面的單點進行，還可以對整個表面進行掃描。 功函數(shù)測量在半導體物理學中te別有用，因為它提供了被測材料費米級的位置。
更新時間：2025-11-11
產(chǎn)品型號：
瀏覽量：1428
FS70L-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 TV接口激光) 特點 采用Mitutoyo遠場校正鏡頭 三端輸出設計可輕松接收視頻 轉盤可接最多四個物鏡
更新時間：2024-12-05產(chǎn)品型號：FS70L4-TH瀏覽量：1487